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UV-A磁粉探傷專用配件紫外線輻照計

簡要描述:UV-A磁粉探傷專用配件紫外線輻照計
光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

數(shù)字液晶顯示,帶背光
手動/自動量程切換
數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
低電量提醒
自動延時關機
有數(shù)字保持
輕觸按鍵操作,蜂鳴提示

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2022-12-19
  • 訪  問  量:767

產品概述


    我廠生產的紫外輻照計已取得中華人民共和國制造計量器具許可證和計量器具型式批準證書。

    我廠紫外輻照計執(zhí)行企業(yè)標準Q/HDSDY0003-2014。
    UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術,選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。


特點

  光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

  數(shù)字液晶顯示,帶背光
  手動/自動量程切換
  數(shù)字輸出接口(USB,冗余供電)
  低電量提醒
  自動延時關機
  有數(shù)字保持
  輕觸按鍵操作,蜂鳴提示


技術指標:


項目參數(shù)備注
波長范圍λ1,峰值波長λp(320~400)nm,λP=365nm用戶二選一
波長范圍λ2,峰值波長λp(375~475)nm,λP=420nm
輻照度測量范圍(0.1~199.9×103) μW/cm2
紫外帶外區(qū)雜光0.02%
相對示值誤差±8%(相對于NIM標準)
角度響應特性±5% (α≤10°)
線性誤差±1%
換檔誤差±1%
短期不穩(wěn)定性±1%(開機30min后)
疲勞特性衰減量<2%
零值誤差滿量程的±1%
響應時間<1秒
使用環(huán)境溫度(0~40)℃;濕度<85%RH
尺寸和重量160mm×78mm×43mm;0.2kg
電源6F22型9V積層電池(非充電電池)
整機功耗<0.1VA


包裝清單


序號配件名稱件數(shù)備注
1讀數(shù)顯示單元1
2探頭1
3探頭蓋1
4數(shù)據(jù)線1
5說明書1
6合格證/保修單1
79V積層電池1
8儀器包裝箱1



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